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공동활용 연구장비

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에너지분산형 x선 형광분석기

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Energy Dispersive X-Ray Florescence (ED-XRF) Analyzer

  • 모델명 X-Strata980
  • 제조사 Oxford Instruments
  • 장비용도 시험
  • 장비구분 화합물전처리/분석장비 > 분광분석장비 > X-선형광분석기

상세정보

구축일자 2012-01-27
납품업체 Oxford Instruments
위치 광주광역시 북구 첨단과기로 123 (오룡동) 신재생에너지연구동 광주과학기술원 신재생에너지연구동 F5 502
구성및성능 Model: X-Strata980
비파괴 EDXRF
Thickness and chemical composition analysis : P15 ~ U92
Maximum current and voltage: 2.0mA and 50kV (100W)
25mm2 Pin Detector
Multi Collimator System: 0.1 mm 0.2 mm 0.3 mm 1.27 mm (Ø)
XRF-PC(컨트롤러) 일체형 시스템
Dimension: 765 x 700 x 790 mm (HWD) 135 Kg
CIGS/Mo/Glass standard sample 제공
장비안내 소재의 화학적 조성 분석을 위한 분석기로서 특히 박막 내에서의 X선 형광을 통해 박막 내 화학적 조성비와 함께 각층의 두께 등을 분석할 수 있는 장비이다. 또한 최근 C(InGa)Se2 Cu(Zn Sn)Se2 Cu(Al Ga)Se2 등의 4원계 화합물을 활용한 태양전지 소자의 공정 제어 등을 위해 활용되는 화학조성 분석 장비로 이원계 삼원계 사원계 화합물 등 최대 15개 원소를 함유하고 있는 박막의 조성을 분석할 수 있다.

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