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공동활용 연구장비

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반도체 변수 분석기

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SEMICONDUCTOR PARAMETER ANALYZER 1SET

  • 모델명 4155A
  • 제조사 Agilent Technologies
  • 장비용도 시험
  • 장비구분 기계가공/시험장비 > 반도체장비 > 프로브스테이션

상세정보

구축일자 1996-05-31
납품업체 Agilent Technologies
위치 광주광역시 북구 첨단과기로 123 (오룡동) 정보통신공학동 A413 광주과학기술원 정보통신공학동 A동 F4 13
구성및성능
장비안내 HP 4155/56A can perform staircase and pulse sweep measurement and sampling (time-domain) measurement using many measurement units including units in the HP 41501A without changing connections.
Moreover you can easily perform stress-measure cycling test for reliability evaluation such as hot carrier injection and flash EEPROM test.
Setup and measurement are made by setting up pages and filling in the blanks from front-panel keys keyboard or HP-IB (SCPI commands).
You can also instantly measure and find setup conditions by using knob sweep capability which is similar to curve tracer operation.

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