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원자탐침현미경

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Atomic Force Microscope

  • 모델명 XE-100
  • 제조사 ㈜파크시스템스
  • 장비용도 시험
  • 장비구분 광학/전자영상장비 > 현미경 > 주사탐침현미경

상세정보

구축일자 2010-12-18
납품업체 ㈜파크시스템스
위치 광주광역시 북구 첨단과기로 123 (오룡동) 신재생에너지연구동 광주과학기술원 신재생에너지연구동 F5 502
구성및성능 일반 대기 중에서 시료표면의 전처리 과정 없이 즉 도체 반도체 및 부도체에 상관없이 3차원 형상을 측정함으로써 폭 높이 각도 거칠기 등 3차원적 정보를 얻을 수 있으며 액체 내에서도 작동하므로 살아있는 세포의 구조나 세포 분열 등을 관찰 할 수 있으며 또한 시료의 전기적 자기적(磁氣的) 물리적 특성 물질 상호 반응 현상 측정 및 미세한 시료 표면 형상의 변형 (Nanolithography Nanomanipulation) 기능도 갖고 있다. 특히 유무기 태양전지 연구에 응용되어 소자의 미세 표면구조와 성능의 상관관계등을 규명하는 데 요긴하게 쓰이는 용도를 갖고 있음.
장비안내 원자현미경은 마이크로머시닝(Micromachining)으로 제작된 극히 미세한 탐침을 시료표면 가까이 가져갔을 때 생기는 원자간의 상호 작용력을 측정함으로써 시료표면의 3차원적 형상을 알아내는 장치로써 원자현미경의 장점은 원자 지름의 수 십 분의 일 (0.01nm) 까지도 측정해 낼 수 있는 최고 수천만 배로서 개개의 원자까지도 관찰할 수 있는 분해능을 들 수 있다.
일반 대기 중에서 시료표면의 전처리 과정 없이 즉 도체 반도체 및 부도체에 상관없이 3차원 형상을 측정함으로써 폭 높이 각도 거칠기 등 3차원적 정보를 얻을 수 있으며 액체 내에서도 작동하므로 살아있는 세포의 구조나 세포 분열 등을 관찰 할 수 있으며 또한 시료의 전기적 자기적(磁氣的) 물리적 특성 물질 상호 반응 현상 측정 및 미세한 시료 표면 형상의 변형 (Nanolithography Nanomanipulation) 기능도 갖고 있다. 특히 유무기 태양전지 연구에 응용되어 소자의 미세 표면구조와 성능의 상관관계등을 규명하는 데 요긴하게 쓰이는 용도를 갖고 있음.

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