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대학 자원

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공동활용 연구장비

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원자현미경

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Enhanced AFM

  • 모델명 XE-100
  • 제조사 ㈜파크시스템스
  • 장비용도 계측
  • 장비구분 광학/전자영상장비 > 현미경 > 주사탐침현미경

상세정보

구축일자 2006-11-06
납품업체 ㈜파크시스템스
위치 광주광역시 북구 첨단과기로 123 (오룡동) 1 광주과학기술원 환경공학동 F2 217
구성및성능 Observation of inorganic material sample (metal semiconductor insulator fine particulate etc.) - Organic/macromolecule sample surface structure - MFM EFM LFM FFM and nano-lithography mode
장비안내 Feature
: For performing current image and I-V spectroscopy

System configuration
: External Low Noise current amplifier DLCPA-200 Frame Module(FRM) Head Extension Module(HEM) CBL-Femto-A
CBL-HEM-B CBL-FRM2FRP-A cable Conductive tip for I-AFM

Specifica
: Imaging modes - Contact AFM Measurement for current image on surface DC Vias Voltage range(+/- 10V in 0.001V
increments) Current range : 1pA ~10mA Spectroscopy range(I(1pA ~ 10mA) V(-10V ~ +10V) Bandwidth(up to 500KHz)
Sample Bias-Voltage Adjustable Current range(1pA ~10mA : suing logarithmic current amplifier)
DC vias range(-10V ~ 10V : in 0.001V increments)
Acquire individual I/V Spectroscopy at anyuser selected(x y) coordinate or grid(32 x 32 or 64 x 64 point) located
on an imaging

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