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장비사진

전계방사주사전자현미경

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Field Emission Scanning Electron Scope

  • 모델명 JSM-7500F
  • 제조사 Jeol
  • 장비용도 시험
  • 장비구분 광학/전자영상장비 > 현미경 > 주사전자현미경

상세정보

구축일자 2008-07-14
납품업체 Jeol
위치 광주광역시 북구 첨단과기로 123 (오룡동) 1 광주과학기술원 다산빌딩 B1층 B05
구성및성능 가. Resolution: 1.0nm guaranteed at 15KV
1.4nm guaranteed at 1KV
나. Magnificaton: 25 to 1000000 X
다.Image modes: SEI
라. Accelerating voltage: 0.1 to 30KV
마. Probe current: 1 X 10-13 to 2 X 10-9 A
장비안내 Scanning Electron Microscope 는 고배율의 저자현미경으로 다양한 재료의 구조적 특성 관찰의 신소재 및 나노기술 연구에 절대적으로 필요한 기자재이다.

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