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고분해능 투과전자현미경

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High Resolution Transmission Electron Microscope (TEM)

  • 모델명 JEM-2100 LaB6
  • 제조사 Jeol
  • 장비용도 시험
  • 장비구분 광학/전자영상장비 > 현미경 > 투과전자현미경

상세정보

구축일자 2005-12-27
납품업체 Jeol
위치 광주광역시 북구 첨단과기로 123 (오룡동) 1 광주과학기술원 환경공학동 F1층 111
구성및성능 1. Resolution -point image : 0.23㎚ -Lattice image : 0.14㎚ 2. Accelerating voltage - 80 100 120 160 200kV 3. Spot size(steps) : 20-200nm 4. CB Dffraction - convergence angle : 1.5 - greater tnan 20 mrad(2α) 5. Magnification -MAG mode : ×1500-1200000 6. Camera length -SA DIFF : 100-2500mm -HD DIFF : 4-80mm 7. Specimen chamber -specimen tilt angle : ±30°
장비안내 200kV의 고전압으로 전자beam을 형성시켜 이를 재료에 투과하므로 재료의 구조 등의 미세조직을 관찰한다. 또한 High Resolution을 이용하여 금 속 및 기타 재료의 격자구조를 이해한다.

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