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공동활용 연구장비

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근접주사광학현미경

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Scanning Near-field Optical Microscope

  • 모델명 Alpha SNOM
  • 제조사 Witec
  • 장비용도 기타
  • 장비구분 광학/전자영상장비 > 현미경 > 광학현미경

상세정보

구축일자 2002-11-29
납품업체 Witec
위치 광주광역시 북구 첨단과기로 123 (오룡동) 1번지 광주과학기술원 고등광기술연구소 F3 304
구성및성능 ㆍNear-Field optical Microscopy ㆍConfocal Microscopy ㆍAtomic Force Microscopy ㆍFeedback Mechanism ㆍScan Range ㆍScanning Method ㆍPosition Accuracy ㆍSample Positioning ㆍSNOM Probes ㆍAFM Probes ㆍNear-field Microscopy ㆍConfocal Microscopy
장비안내 특징
빛의 파장대 영역 이하의 나노 사이즈의 물질을 관찰하거나 광학적 성질을 분석할 수 있는 근접장 주사 광학 현미경이며 Tip을 교체함으로써 AFM (Atomic Force Microscopy) 모드로의 전환이 가능하며 광학 렌즈를 부착하여 Conforcal microscopy의 사용으로도 가능하다.이와 같이 물질의 분석에 용이한 다양한 모드의 첨가가 가능함으로써 나노 단위의 물질을 분석하는데 유용한 장비이다.

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