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투과전자현미경

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Transmission Election Microscope

  • 모델명 JEM-100CXll
  • 제조사 Jeol
  • 장비용도 시험
  • 장비구분 광학/전자영상장비 > 현미경 > 투과전자현미경

상세정보

구축일자 1982-03-25
납품업체 Jeol
위치 광주광역시 동구 필문대로 309 (서석동) 375 조선대학교 의대2호관 F1 1203
구성및성능 1. Power Supply console 2. Pump box 3. Air Compressor 4. Cooling water system
장비안내 Eletron beam을 Electron Lens로 Sample을 확대 관찰하는 현미경으로서 분해능이 0.2~0.3nm로 미세구조를 확대 관찰한다.

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