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공동활용 연구장비

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탁상형 주사전자 현미경

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Benchtop Scanning Electron Microscope

  • 모델명 JCM-7000
  • 제조사 Jeol
  • 장비용도 분석
  • 장비구분 광학/전자영상장비 > 현미경 > 주사전자현미경

상세정보

구축일자 2023-12-26
납품업체 Jeol
위치 광주광역시 북구 용봉로 77 전남대학교 용봉캠퍼스 공과대학 6호관 B1층 B005-1호
구성및성능 1) Bench-Top Scanning Electron Microscope BU
Performance
(1) Incident voltage : 5, 10, 15 kV
(2) HV mode Signal : SE image
BSE image (Compo, Topo, Streo, 3D)
(3) LV mode Signal : BSE image (Compo, Topo, Streo, 3D)
(4) Magnification : x24 to x202,168
장비안내 - 탁상형 주사전자 현미경 시스템은 소재의 표면을 분석하기 위해 사용되는 장비
- 수 nm ~ um 소재 표면 형상 및 원소 분포 분석이 가능하여 본 연구에서 주로 사용하는 다양한 조성과 크기의 파우더(전지시료 등)와 같은 시료의 표면특성 분석

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