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공동활용 연구장비

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고분해능 원자현미경

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High Resolution Atomic Force Microscope

  • 모델명 HR-AFM
  • 제조사 프로브스
  • 장비용도 분석
  • 장비구분 광학/전자영상장비 > 현미경 > 주사탐침현미경

상세정보

구축일자 2021-12-16
납품업체 프로브스
위치 광주광역시 북구 용봉로 77 전남대학교 용봉캠퍼스 공과대학 6호관 B1층 B005-1호
구성및성능 Sample Sizes : Up to 1" X 1" X 1/2"
Standard Scanning Modes : Vibrating (Tapping), Non-Vibrating (Contact), Phase, LFM
Scanners : 100 X 100 X 17 µm, 50 X 50 X 17 µm, 15 X 15 X 7 µm
Video Optical Microscope : Top View: 400 X Research Grade, Side View: 200 X Cell Phone Type
Stage and EBox Size : Compact table top design
장비안내 수 나노미터(nm)의 공간분해능으로 다양한 물성 분석이 가능하며 날카로운 탐침을 이용함으로써 시료 표면을 스캔하고 탐침과 시료 사이에서 나타나는 다양한 신호들을 수집하여 기계적 특성(고착성, 경도, 마찰, 소실), 전기적 특성(전기용량, 정전력, 일함수, 전류), 자기적 특성 및 광학적 분광특성 등을 규명.

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