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공동활용 연구장비

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표면거칠기측정장치(AFM)

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Atomic force microscopy

  • 모델명 nano xpert 2
  • 제조사 엠포시스
  • 장비용도 분석
  • 장비구분 광학/전자영상장비 > 현미경 > 주사탐침현미경

상세정보

구축일자 2013-02-26
납품업체 엠포시스
위치 광주광역시 북구 용봉로 77 전남대학교　 공동실험실습관 F2층 210
구성및성능 - 고 분해능과 넓은 작동영역
- XY nano positioning scanner: VCM, 100*100㎛, 200*200㎛, PZT 30*30㎛
- Z nano positioning scanner: PZT 7㎛
- 용이한 팁교환 및 정력
- 고속 자동 팁 접근
- CCD를 이용한 팁 모니터링
- 빠른 시편 탑재 및 이송
장비안내 원자 현미경은 눈으로 볼 수 없는 나노 세계를 아주 미세한 팁을 사용하여 물체 표면의 형상, 단단한 정도, 전기, 자기적 특성을 측정할 수 있는 계측기로 머리카락 굵기의 1십 만분의 1 크기를 측정할 수 있는 정밀도를 가지고 있다. 배율이 최고 수천만 배로서 개개의 원자를 관찰할 수 있어 미세 재료분석, 3차원 형상, 표면계측, 결함분석 등 다양한 분야에 적용할 수 있다.

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