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공동활용 연구장비

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원자현미경

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Atomic Force Microscope

  • 모델명 XE-100
  • 제조사 ㈜파크시스템스
  • 장비용도 시험
  • 장비구분 광학/전자영상장비 > 현미경 > 주사탐침현미경

상세정보

구축일자 2010-05-19
납품업체 ㈜파크시스템스
위치 광주광역시 북구 용봉로 77 (용봉동) 77 전남대학교 용봉캠퍼스 공과대학6호관 B1 b005
구성및성능 본 장비는 국가연구개발사업으로 구축된 장비로서 전남대학교산학협력단에서 운영,관리되는 장비입니다. 자세한 장비정보 및 사용에 대한 문의는 해당장비 담당자 또는 전남대학교산학협력단에 문의하여 주시기 바랍니다.
장비안내 특징
1. 대기중에서 극초정밀 분해능으로 시료표면 관찰
2. 원자수준의 분해능으로 3차원 입체구조 분석
3. 하드웨어적인 Closed-loop Feedback 제어로 왜곡현상 없는 이미지 화상 도출
4. 수직(Z) 스캐너와 수평(XY) 스캐너를 분리하여 상호간섭 배제
5. 고속구동 가능한 수직(Z) 스캐너 ( 최대 주파수 : 1.7 Hz )
- 튜브 스캐너 대비 약 3 ~ 5 배 속도
- True Non-Contact Mode 측정 가능
* Tapping Mode로는 측정할 수 없는 Soft 샘플 등 측정 가능
6. 수직(Z) 스캐너 축에 일치된 광학 현미경
- 측정 위치 찾기 / 위치 이동에 편리
7. 측정 기능 :
Contact AFM, Tapping AFM, True Non-contact AFM, LFM, Phase Imaging, Force vs. Distance curve

구성및성능
1. 원자현미경 기본구성
- SPM 콘트롤러 / 데이터 처리 시스템
- 50 um x 50 um 수평(XY) 스캐너 : Closed-loop Feedback 제어
- 12um 수직(Z) 스캐너
- 고정밀도 수평(XY) 스테이지
- 고해상도디지털CCD 카메라 : 디지털 줌 가능
- XEP 데이터 수집/분석 소프트웨어
- XEI 화상 이미지 처리 소프트웨어
- 실시간 CCD 카메라 영상 이미지 표현
2. 액티브 진동차단 시스템
3. 소음 차폐장치
4. 캔틸레버

활용분야
원자현미경은 수 옹스트롬의 극초 공간 분해능으로 물질표면 및 박막단면의 구조를 나노미터 수준에서 측정할 수 있는 첨단 장치로서, 대기 그리고 용액 속에서 측정이 가능하며, 부도체 시료에 대한 측정도 가능하다. 또한, 물질 표면 및 박막 구조를 3차원적이고 비파괴적인 방법으로 측정 및 조작할 수 있을 뿐만 아니라, 시료의 물리적, 기계적 특성에 대한 영상화도 가능하여, Bio, 물리, 화학, 생명공학, 농 생물학, 고분자 등의 전 과학/기술 분야에서 표면의 극미세한 형상 및 물성분석과 개발에 활용이 가능하다.

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