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공동활용 연구장비

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주사 전자 현미경

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scanning electron microscope

  • 모델명 JSM-6701F
  • 제조사 Jeol
  • 장비용도 시험
  • 장비구분 광학/전자영상장비 > 현미경 > 주사전자현미경

상세정보

구축일자 2006-11-28
납품업체 Jeol
위치 광주광역시 북구 용봉로 77 (용봉동) 77 전남대학교 용봉캠퍼스 공동실험관 F2층
구성및성능 1.cold field emission source
2.Resolution : 1.0nm guaranteed at 15KV, 2.2nm guaranteed at 1KV
3.Accel. Voltage : 0.5 to 30kV
4.Specimen chamber : For 200 nm diameter specimen
장비안내 1. Used for obervation of specimen surfaces.
2. When the specimen is irradiated with a fine electron beam, secondary electrons are emitted from the specimen surface.
3. Topography of the surface can be observed by two-dimensional scanning of the electron probe over the surface and acquisition of an image from the detected secondary electrons.

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