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Transmisson Electron Microscope (TEM)

  • 모델명 Zeiss Electron Microscope EM 109
  • 제조사 Carl Zeiss
  • 장비용도 기타
  • 장비구분 광학/전자영상장비 > 현미경 > 투과전자현미경

상세정보

구축일자 1998-04-17
납품업체 Carl Zeiss
위치 광주광역시 북구 용봉로 77 (용봉동) 77 전남대학교
구성및성능 - Illuminating System - Electron Gun - Condenser Lenses - Specimen Stage - Imaging Lens System - Objective - Intermediate - Projector lens - Viewing System & Camera - Vacuum System
장비안내 전자현미경은 전자총에 의해서 형성된 일련의 전자들이 전기장에 의하여 시료를 향하여 가속된다. 전자다발이 금속으로 형성된 aperture와 자기장을 이용한 렌즈에 의해서 촛점으로 모아지고 파장이 일정한(즉 단색광 monochromatic) 전자비임을 형성한다. 이 전자빔이 다시 자기장을 이용한 또 다른 렌즈에 의해서 시편에 촛점을 형성한다. 시편에 입사되는 전자들과 시편내에 포함된 원자 및 전자들이 상호작용(interaction)한다. 이러한 상호작용 및 그 결과가 탐지되고 이미지로서 스크린 CRT 혹은 필름에 기록된다.

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