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Electronic Microscope

  • 모델명 JSM350
  • 제조사 Jeol
  • 장비용도 기타
  • 장비구분 광학/전자영상장비 > 현미경 > 주사전자현미경

상세정보

구축일자 1980-06-12
납품업체 Jeol
위치 광주광역시 북구 용봉로 77 (용봉동) 교육정보 시스템실 전남대학교 본관
구성및성능 - Electron beam : 0.06Å~∞ - Focusing : Electrical - Monitor : CRT - Medium : Vacuum - Lens : Electron lens(for probe demagnification) - Resolution : Secondary electron image (60Å) - Depth of field : 30㎛(at 1000X) - Magnification : 10X to 18,000X(continuou
장비안내 - 초점이 잘맞춰진 electron beam을 sample 표면에 주사하여 비교적 큰 표면을 입체적으로 관찰

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