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파장 가변 분광형 단색광원 시스템

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Custom Tunable Light Source with CS260B

  • 모델명 CS260B-3-MC-D
  • 제조사 Newport/Oriel
  • 장비용도 계측
  • 장비구분 광학/전자영상장비 > 광파발생/측정장비 > 달리분류되지않는광파발생/측정장비

상세정보

구축일자 2024-07-16
납품업체 Newport/Oriel
위치 광주광역시 북구 첨단과기로 123 (오룡동) 광주과학기술원 GIST대학 C동 F3층 302호
구성및성능 ○ Tunable Wavelength Range: 350~1,800nm 단색광원 또는 광대역 백색광원 설정 가능 (CS260B, VIS-NIR Extended Range).
○ Dual Grating (600 lines/mm, 400 nm & 1000 nm Blaze Wavelength)
○ Dual Output & Micrometer Slits for Input/Output Port
○ Wavelength Accuracy: ~1.0nm.
○ Wavelength Precision: ~0.15nm.
○ Vacuum chamber Compatibility: Optical Fiber를 통해 Vacuum Chamber 내부로 도파 및 집광 용이.
○ 250W QTH Research Lamp Source.
○ Lamp 및 Monochromator 사이 Motorized Filter Wheel/Filters 통해 SHG 자동 방지.
○ Output Port 이후 Manual Filter Wheel/Filters 통해 맞춤형 광대역 스펙트럼 생성 가능.
○ CW Beam.
○ 연속 파장 스캔 및 보정 기능 포함.
장비안내 본 파장 가변 분광형 단색광원 시스템 장비는 가시광선-근적외선 (350~1,800nm) 대역폭에서 파장 정확도 ~1.0nm 및 파장 정밀도 ~0.15nm 수준의 단색광원을 생성하고 (연속 파장 스캔 및 보정 기능 포함) Optical Fiber를 통해 Vacuum Chamber 내부에 위치한 광 검출기에 집광할 수 있음. 분광 분석만 가능한 일반적인 분광기 시스템과 달리 본 장비는 단색광원 생성/집광 및 광전류 측정 시스템과의 결합/호환 기능을 제공함. 본 장비와 호환하여 사용할 수 있는 Vacuum Chamber 및 전기적 측정 시스템과 함께 구축되어 있음. 본 장비의 조리개를 통해 단색광원 빛의 세기를 조절할 수 있고 이를 계측할 수 있는 Optical Power Meter (2936-R / 250 kHz), Calibrated Silicon Detector (SP7N6157A / 200-1100 nm), Calibrated Ge Detector (SP7N6159A / 780-1800) 등을 보유하고 있음. 따라서 파장, 빛의 세기, 측정 환경 등 다양한 입사광 조건에서 높은 밀도의 광 반응 학습 데이터 (넓은 대역폭에 걸쳐 좁은 파장 간격으로 광 검출기의 파장별 광전류를 촘촘히 학습한 데이터) 측정에 용이하므로 광대역 고감도 광 검출기 및 초소형 전산 분광기 연구 개발을 위한 필수적인 장비에 해당함.

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