Research Hub

대학 자원

대학 인프라와 자원을 공유해 공동 연구와 기술 활용을 지원합니다.

공동활용 연구장비

20230713000000274322.jpg

고분해능 구면수차보정 투과전자현미경

상담·문의하기

High Resolution Cs-Corrected Transmission Electron Microscope

  • 모델명 JEM-ARM300F2
  • 제조사 Jeol
  • 장비용도 분석
  • 장비구분 광학/전자영상장비 > 현미경 > 투과전자현미경

상세정보

구축일자 2023-06-27
납품업체 Jeol
위치 광주광역시 북구 첨단과기로 123 광주과학기술원 중앙연구기기센터 (C11) F1층 108호
구성및성능 1. Electron source: Cold Field Emission Gun
2. Accelerating voltage: 40, 60, 80, 200, 300 kV
3. Lattice resolution: 50 pm at 300 kV
4. STEM resolution: 53 pm at 300 kV / 96 pm at 80 kV
5. Gatan Image Filter: Continuum ER
6. EDS Detector: Dual SDD system (158 mm2 x2)
7. Camera: Oneview (25 fps at 4k x 4k)
8. Pixelated STEM detector: 4D Canvas
장비안내 이중 구면수차보정 투과전자현미경(Cs-TEM)은 TEM(Image)과 STEM(Probe) mode에 구면수차보정기가 장착되어 있어 분해능을 획기적으로 향상시킨 차세대 전자현미경 입니다. 성분분석 및 결합 상태 분석을 위하여 EDS(Energy Dispersive x-ray Spectroscopy)와 EELS(Electron Energy Loss Spectroscopy)가 장착되어 있으며, Energy Filter 기능을 활용하면 특정 에너지를 잃은 전자로만 이루어진 영상을 얻을 수 있습니다. STEM detector로 HAADF(High Angle Annular Dark Field), LAADF(Low Angle Annular Dark Field), BF(Bright Field), ABF(Annular Bright Field)가 있으며, 추가로 pixelated STEM detector가 장착되어 있어 영상과 회절 정보를 동시에 획득할 수 있습니다.

목록보기