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공동활용 연구장비

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제타 전위·입경·분자량 측정 시스템

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Zeta-potential&Particle Size Analyzer

  • 모델명 ELSZ-2000ZS
  • 제조사 Otsuka Electronics
  • 장비용도 분석
  • 장비구분 화합물전처리/분석장비 > 입자분석장비 > 제타전위측정기

상세정보

구축일자 2019-02-14
납품업체 Otsuka Electronics
위치 광주광역시 북구 첨단과기로 123 (오룡동) 1 광주과학기술원 신소재공학동 F8 806호
구성및성능 pecification:
① Main System
(1)광원 시스템 : 레이저 광산란, 레이저 도플러 법Heterodyne mode & Homo dyne)
(2)광원: 반도체 Diode 레이저(Max 30mW, 650~665nm)
(3)검출기: 고감도 APD
(4)셀: Rectangular cell(Particle Size, Molecular Weight,Flow cell(ZETA-Potential)
(5)Correlator: Time interval/Time domain
　 Channels: Max. 2048ch (software convertible)
　 Sampling Time: (0.1,1,10,100,1000) x (1,2,4,8)μsec
(6)측정각도는 입도측정시 165°이상, 제타전위 측정시에는 15°이하, 160°이상.
(7)측정범위
- 샘플 용량: Particle Size(min 13ul), 제타전위(min 130㎕)
- Zeta Potential: No limited, 제타측정 가능한 Size범위:0.1nm – 100um
　 - Mobility: No limited
　 - Particle size range: 0.1nm – 10 um
　 - Molecular Weight : 360~20,000,000
　 - 농도범위: 0.00001%(0.1ppm)~40%
- 온도범위: 0℃ ~ 90℃ (Accuracy:± ℃ 0.5℃)(Including Heater, Gradient)
- 전기영동: Voltage range : 0 ∼ 600V Continuous variation
- Conductivity range: 0~200mS/cm
장비안내 1. 유기 및 무기 나노입자의 입경측정 및 표면전하 측정 분석
2. 온도에 따른 나노입자 성질 변환 확인
3. 제타전위 측정시, Cell내부를 5point 이상 측정하여 제타전위 값 계산(Mori-Okamoto formula식 사용)
4. Polymer, Film, Membrane 등의　고체시료 표면의 Zeta Potential 측정
(측정 Cell 내부 5 point 이상 측정 가능)
5.형광 Cut filter를 이용하여 형광성 있는 재료,Quantum Dot 등의 size 및 Zeta potential 측정가능함

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