본 발명은 구조광 패턴 반사기술을 이용한 대형 반사판 3차원 표면형상 측정 방법에 관한 것으로, 거울과 같이 빛을 반사하는 물체의 3차원 표면을 구조광 패턴을 이용하여 정밀 측정하는 방법에 대한 것이다. 제안하는 구조광 패턴 반사기법(fringe pattern reflection)을 사용하여 짧은 시간에 대형 반사 집광판의 3차원 표면형상을 측정하고, 반사판의 곡률, 왜곡, 집광률 등의 분석을 수행할 수 있다.