Loading...
국가 과학기술 경쟁력 수준 측정 시스템 및 방법
구분
특허/실용/디자인/상표
특허등록일자 2013-06-11
취득구분 등록
기술분류 재료
지식재산유형 국내출원
등록번호(특허) 10-1275587
출원(등록)번호 2011-0109769
출원형태
발명자수 1
DOI 값
주요내용
본 발명은 국가 과학기술 경쟁력 수준 측정 시스템 및 방법에 관한 것으로서, 본 발명의 실시예에 따른 국가 과학기술 경쟁력 수준 측정 장치는, 통신 기능과 정보의 취합 및 연산 처리 기능을 구비한 국가 과학기술 경쟁력 수준 측정 장치에 있어서, 통신망을 통해 특허정보 제공서버와 통신하기 위한 통신부; 상기 특허정보 제공서버로부터 해당 국가의 특허 관련 정보를 획득하는 특허정보 획득부; 상기 획득한 특허 관련 정보에 근거해, 특허의 갯수를 나타내는 양(N it )과, 특허의 질을 나타내는 위상기반 핵심특허 지수(TEI it ) 및 특허의 영향력을 나타내는 영향력 지수(CII i )를 곱하여( ) 국가 과학기술 경쟁력 지수(ETC it )를 산출하는 경쟁력지수 산출부; 및 상기 산출한 국가 과학기술 경쟁력 지수를 사용자가 확인할 수 있도록 시각 또는 청각 데이터로 출력하는 출력부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
발명자 정보
| 이름 | 소속 |
|---|---|
| 주시형 | 전남대학교 산업공학과 |