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저밀도 패리티 검사 부호의 설계 및 부호화 방법 및 장치
구분
특허/실용/디자인/상표
특허등록일자 2024-09-25
취득구분 등록
기술분류 정보
지식재산유형 국내출원
등록번호(특허) 10-2711978
출원(등록)번호 10-2022-0058823
출원형태 단독출원
발명자수 7
DOI 값
주요내용
본 발명은 저밀도 패리티 검사 부호의 설계 및 부호화 방법 및 장치에 관한 것이다. 본 발명의 일 실시예에 따른 저밀도 패리티 검사 부호의 설계 및 부호화 방법은, (a) PBRL(Protograph-Based Raptor-Like) LDPC(Low-Density Parity-Check) 부호에 대한 프로토행렬을 생성하는 단계; (b) 상기 프로토행렬에 적어도 하나의 엣지를 추가하는 단계; 및 (c) 상기 적어도 하나의 엣지가 추가된 프로토행렬을 이용하여 부호화(encoding)를 수행하여 부호어(codeword)를 생성하는 단계;를 포함할 수 있다.
발명자 정보
| 이름 | 소속 |
|---|---|
| 박호성 | 전남대학교 지능전자컴퓨터공학과 |