치매성 피험자(demented subject)의 뇌에서 뉴론 활동도는 대뇌 피질성면(cortical surface)에 걸쳐 불균일하게 되는데, 이 불균일성은 관찰된 두피 전위(scalp potential)를 적절히 분석함으로써 민감하게 검출된다. 본 발명은 이러한 뉴론 퇴행도(neuronal degeneration)를 수적으로 검출하기 위한 컴퓨터 알고리즘 및 장치에 관한 것이다. EEG의 적절한 주파수가 선택되기 때문에 EEG의 두피 전위는 정상 피험자에겐 평탄하게 된다. 뇌의 기능이 손상되면, 뉴론 활동도의 불균일성은 적절히 필터링된 EEG의 관찰된 두피 전위(통상적으로, α성분)에서 공간적 변동(spatial fluctuation)과 시간적인 변동(temporal fluctuation)으로 검출된다. 이러한 적절히 선택된 EEG 성분의 쌍극자도값으로부터 유도된 통계 파라미터들은 뇌의 상태를 판정하는데, 여기서 얻어진 파라미터들과 통계 파라미터들의 임계값을 비교하여 피험자가 정상인지 치매증인지 여부가 조기에 판정된다. 본 발명은 치매증을 고감도로 스크리닝(screening)하며, 또한 치매증의 진행을 모니터링하여 치매증에 대한 약물 치료(medication) 및 처치(treatment)를 최적화할 수 있는 신뢰할 수 있고 저렴하며 취급이 용이하고 비침해적인 방법이다.