본 발명은 금형 표면검사장치를 이용한 표면검사 방법에 관한 것으로 더욱 상세하게는 검사대상물이 세팅되는 세팅부와, 상기 검사대상물의 표면에 반사하이라이트가 발생되도록 상기 검사대상물에 조사광을 조사하는 광원부와, 상기 반사하이라이트가 발생되는 하이라이트 영역 및 상기 하이라이트 영역과 상기 하이라이트 영역 주변부 사이의 경계영역이 포함되도록 상기 검사대상물의 표면을 촬영하는 촬상부와, 상기 촬상부에서 제공되는 이미지중 상기 작업자에 의해 조작되는 입력수단을 통해 선택되되, 상기 경계영역이 포함되며, 상기 경계영역중 명암대비가 큰 영역인 상기 검사대상물의 산 부분인 제1 포인트와 상기 검사대상물의 골 부분인 제2 포인트가 포함된 단위영역을 분석하는 것으로서, 상기 제1 및 제2 포인트에 대한 그레이스케일값을 사용자와 관리자의 단말기 또는 관리 서버에 제공하는 이미지처리부;를 포함하며, 상기 검사대상물의 표면에 결함발생을 판별할 수 있도록 반사하이라이트가 발생되는 하이라이트 영역이 포함하는 이미지를 처리하여 작업자에게 제공하는 금형 표면검사장치를 이용한 표면검사 방법에 관한 것이다.