본 발명에 따른 편광 민감 전역 광단층 장치에는, 광을 조사하는 광원부; 상기 광원부로부터 조사된 광을 분리하여 샘플측과 레퍼런스측으로 조사하고, 상기 샘플측과 상기 레퍼런스측에서 반사되어 온 광이 입사하는 빔스플리터; 상기 빔스플리터로부터 반사된 간섭광의 이미지를 획득하는 이미징부; 및 상기 구성요소들을 제어하는 제어장치가 포함되고, 상기 광원부에 제공되는 선형편광자; 상기 샘플측과 상기 레퍼런스측에 제공되어 상기 선형편광자를 통과한 선편광을 타원편광으로 만드는 사분의일파장판; 및 상기 이미징부에 제공되어, 편광의 수평성분과 수직성분을 시간 선택하여 통과시키는 선택편광투과장치가 더 포함되고, 상기 이미징부에는 단일의 카메라가 제공되는 것을 특징으로 한다. 본 발명에 따르면, 이미지의 픽셀 간 메칭에러정렬의 불편함, 카메라의 픽셀응답율 보정의 불편함, 및 광정렬의 엄격맞춤의 불편함을 없애고, 제품의 단가를 현저히 낮출 수 있고, 시스템의 크기가 줄어드는 장점을 얻을 수 있다.