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초점 스택의 정렬 방법 및 이를 이용한 깊이 정보 추정 방법
구분
특허/실용/디자인/상표
특허등록일자 2025-09-08
취득구분 등록
기술분류 기타
지식재산유형 국내출원
등록번호(특허) 10-2022-0060800
출원(등록)번호 10-2022-0060800
출원형태
발명자수 1
DOI 값
주요내용
본 발명은 신경망 모델을 이용하여, 초점 스택에 포함된 이미지를 정렬하고, 정렬된 이미지의 특징을 추출하여 이미지 내 피사체의 깊이 정보를 추정하는 방법에 관한 것이다. 본 발명의 일 실시예에 따른 초점 스택의 정렬 방법은 촬영 장치의 메타데이터를 이용하여 상기 촬영 장치에서 촬영된 초점 스택 내 이미지별 상대 화각을 산출하는 단계, 상기 상대 화각에 기초하여 상기 초점 스택을 1차 정렬하는 단계, 상기 1차 정렬된 이미지별 방사 운동, 수평 운동 및 수직 운동 특징을 이용하여 상기 초점 스택의 플로우 필드(flow field)를 결정하는 단계 및 상기 플로우 필드를 이용하여 상기 초점 스택을 2차 정렬하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다. 또한, 본 발명의 일 실시예에 따른 깊이 정보 추정 방법은 초점 스택을 정렬하는 단계, 상기 정렬된 초점 스택으로부터 초점 특징을 추출하는 단계 및 상기 추출된 초점 특징을 이용하여 깊이 맵을 생성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
발명자 정보
| 이름 | 소속 | |
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