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실록산계 수지 및 이를 이용한 반도체 층간 절연막의 형성 방법

구분 특허/실용/디자인/상표
특허등록일자 2006-02-15
취득구분 등록
기술분류
지식재산유형 국내출원
등록번호(특허) 10-0554327
출원(등록)번호 10-2001-0056798
출원형태
발명자수 1
DOI 값
주요내용
특허 이미지

본 발명은 실록산계 수지 및 이를 이용한 반도체 층간 절연막의 형성방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 환형 실록산 화합물과 반응성기가 4개 있는 실란계 화합물, 또는 여기에 반응성기가 1개 이상인 실란 화합물 및/또는 케이지형 실록산 화합물을 부가하여 유기용매 중에서 촉매와 물의 존재하에 가수분해 및 축합중합시켜 제조한 실록산계 수지, 및 상기 수지를 반도체의 저유전 절연막으로 이용하는 것을 특징으로 하는 반도체 층간 절연막의 형성방법에 관한 것으로, 본 발명의 실록산계 수지를 이용하면 고집적도 반도체 제조시 기계적 물성 및 열안정성이 우수하고 저유전율인 절연막을 용이하게 형성할 수 있다. 실록산계 수지, 케이지형 실록산 화합물, 환형 실록산 화합물, 실란 화합물, 반도체, 절연막, 저유전율

발명자 정보

이름 소속
정현담 전남대학교 화학과