본 논문에서는 태양 발에 사용되는 형 집반사의 형상측정을 통하여 3D 곡률도, 왜곡도 집률 등을 측정하는 방법을 제안한다. 집반사의 경우 다양한 형태의 왜곡으로 인해 집효율이 감소 할 수 있고, 효율인 집을 하여 곡률과 왜곡 등의 측정 데이터 피드백을 통한 반사의 곡률 최화 작업이 필요하다. 곡률도 집 률 측정은 이 라인 스캔 방식을 통해 정측정이 가능하나 시간이 매우 오래 걸리는 단이 있고 이를 해결하 기 해 다양한 구조 패턴 반사기법들이 지속으로 연구되고 있다. 본 논문에서는 형 집반사의 곡률도 집률 측정을 하여 구조 패턴 편향법(structural light pattern deflectometry : SLPD)을 제안한다. 제안 하는 방법은 빔로젝터-스크린-측정반사-카메라로 측정환경을 구성하고, 평면거울을 이용하여 기하보정 구조 패턴 주소 등록을 수행한다. 그리고 반사에 의해 변형되어 측정된 구조 패턴을 기하보정 결과에 용하여 표 면형상에 한 X, Y축 gradient를 구하고, integration 계산을 통해 3차원 형상을 복원한다. 복원된 3차원 형상 은 이상인 설계모델과 비교를 통해 곡률도, 왜곡도 집률 등의 측정이 가능하다.