본 논문에서는 무선 트랜시버 구성소자들의 완제품 테스팅을 용이하게 할 수 있는 새로운 테스팅 기법을 제안하였다. 즉, RF 집적회로에 존재하는 고장들에 대하여 설계사양의 정보를 포함하는 구간고장모델(band fault model)을 제안하고 이 구간고장모델들의 변화를 회로의 출력에서 그대로 관찰할 수 있도록 함으로써 시간영역에서 설계사양에 대한 테스트를 용이하게 할 수 있는 방식을 제시하였다. 이 방식은 주파수 영역에서 테스트를 행하는 기존의 설계사양 테스트를 시간영역에서 용이하게 테스트할 수 있도록 함으로써 고가의 테스트 장비가 필요 없으며 테스트 시간이 단축되는 장점이 있다. 본 논문에서 제시된 테스팅 기법을 5.25 GHz 저잡음증폭기의 테스트에 적용하여 설계사양을 고려한 시간영역 테스팅 기법이 저잡음증폭기를 비롯한 RF 집적회로의 테스트에 매우 효과적임을 입증하였다.